SN74BCT8240ANT - IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Número de pieza del fabricante

SN74BCT8240ANT

Número interno de parte

ABC-SN74BCT8240ANT

Fabricante

T-I

Breve descripción

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Estado de RoHS

Sin plomo / Cumple con RoHS

El tiempo de entrega

1-2 días

Cantidad disponible

58032 Pieces

Precio de referencia

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Especificaciones para SN74BCT8240ANT

Garantía de calidad : 365 dias de garantia

Recurso de stock : Distribuidor Franquiciado / Fabricante Directo

País de origen : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

Número de pieza : SN74BCT8240ANT

Fabricante : T-I

Descripción : IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Serie : 74BCT

Estado de la pieza : Obsolete

Tipo logico : Scan Test Device with Inverting Buffers

Voltaje de alimentación : 4.5V ~ 5.5V

Número de bits : 8

Temperatura de funcionamiento : 0°C ~ 70°C

Tipo de montaje : Through Hole

Paquete / Caja : 24-DIP (0.300", 7.62mm)

Paquete del dispositivo del proveedor : 24-PDIP

Peso : -

Condición : Nuevo y original

enlaces relacionados : SN74 , SN74BCT

Documentos para SN74BCT8240ANT

Hojas de datos : SN74BCT8240ANT.pdf

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