SN74BCT8374ADWRE4 - IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Número de pieza del fabricante

SN74BCT8374ADWRE4

Número interno de parte

ABC-SN74BCT8374ADWRE4

Fabricante

T-I

Breve descripción

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Estado de RoHS

Sin plomo / Cumple con RoHS

El tiempo de entrega

1-2 días

Cantidad disponible

58545 Pieces

Precio de referencia

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Especificaciones para SN74BCT8374ADWRE4

Garantía de calidad : 365 dias de garantia

Recurso de stock : Distribuidor Franquiciado / Fabricante Directo

País de origen : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

Número de pieza : SN74BCT8374ADWRE4

Fabricante : T-I

Descripción : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Serie : 74BCT

Estado de la pieza : Obsolete

Tipo logico : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops

Voltaje de alimentación : 4.5V ~ 5.5V

Número de bits : 8

Temperatura de funcionamiento : 0°C ~ 70°C

Tipo de montaje : Surface Mount

Paquete / Caja : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Paquete del dispositivo del proveedor : 24-SOIC

Peso : -

Condición : Nuevo y original

enlaces relacionados : SN74B , SN74BCT8

Documentos para SN74BCT8374ADWRE4

Hojas de datos : SN74BCT8374ADWRE4.pdf

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