SN74LVTH18646APMG4 - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

Número de pieza del fabricante

SN74LVTH18646APMG4

Número interno de parte

ABC-SN74LVTH18646APMG4

Fabricante

T-I

Breve descripción

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

Estado de RoHS

Sin plomo / Cumple con RoHS

El tiempo de entrega

1-2 días

Cantidad disponible

67626 Pieces

Precio de referencia

~~USD 6.91853~~

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Especificaciones para SN74LVTH18646APMG4

Garantía de calidad : 365 dias de garantia

Recurso de stock : Distribuidor Franquiciado / Fabricante Directo

País de origen : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

Número de pieza : SN74LVTH18646APMG4

Fabricante : T-I

Descripción : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

Serie : 74LVTH

Estado de la pieza : Active

Tipo logico : ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers

Voltaje de alimentación : 2.7V ~ 3.6V

Número de bits : 18

Temperatura de funcionamiento : -40°C ~ 85°C

Tipo de montaje : Surface Mount

Paquete / Caja : 64-LQFP

Paquete del dispositivo del proveedor : 64-LQFP (10x10)

Peso : -

Condición : Nuevo y original

enlaces relacionados : SN74LV , SN74LVTH1

Documentos para SN74LVTH18646APMG4

Hojas de datos : SN74LVTH18646APMG4.pdf

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